发明名称 IC TESTER
摘要
申请公布号 JPH08122410(A) 申请公布日期 1996.05.17
申请号 JP19940285979 申请日期 1994.10.26
申请人 HITACHI ELECTRON ENG CO LTD 发明人 NIWA HIROMASA
分类号 G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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