| 摘要 |
<P>L'invention a pour objet un procédé pour la mesure du déclin de potentiel dV/dt d'un matériau isolant, caractérisé en ce qu'il comprend les étapes suivantes:<BR/>- on place un élément (1) constitué dudit matériau isolant dans l'enceinte (2) d'un microscope électronique,<BR/>- on dépose, en un point-cible (0) dudit élément, une charge électronique au moyen du dispositif (3) d'émission électronique du microscope,<BR/>- on mesure, au moyen d'un voltmètre (6), la variation en fonction du temps du potentiel audit point cible.<BR/>Par un traitement mathématique, on peut déduire la valeur de la mobilité électronique du matériau isolant.</P>
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