发明名称 MEMORY SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH0894723(A) 申请公布日期 1996.04.12
申请号 JP19940254351 申请日期 1994.09.22
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 EBIYA KOUICHI
分类号 G01R31/3183;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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