发明名称 WERKWIJZE VOOR HET VERVAARDIGEN VAN HALFGELEIDERINRICHTINGEN MET HALFGELEIDERELEMENTEN GEVORMD IN EEN OP EEN DRAGERPLAK AANGEBRACHTE LAAG HALFGELEIDERMATERIAAL.
摘要 Werkwijze voor het vervaardigen van een halfgeleiderinrichting, waarbij op een eerste zijde (2) van een halfgeleiderplak (1), die is voorzien van een op een isolerende laag (3) liggende laag halfgeleidermateriaal (4), halfgeleiderelementen (5) en geleidersporen (14) worden gevormd. Daarna wordt de halfgeleiderplak (1) met deze eerste zijde (2) bevestigd op een dragerplak (15), waarna vanaf de andere, tweede zijde (17) materiaal van de halfgeleiderplak (1) wordt verwijderd tot de isolerende laag (3) is blootgelegd. De isolerende laag (3) wordt voorzien van contactvensters (18) waarin geleidende elementen (19) worden aangebracht. Dit gebeurt vanaf de eerste zijde (2) van de halfgeleiderplak (1) nog voordat deze wordt bevestigd op de dragerplak (15). De halfgeleiderelementen (5) worden door de geleidende elementen (19) uitwendig gecontacteerd met een contactdraad (20). De contactvensters (18) en de geleidende elementen (19) kunnen gevormd worden tijdens processtappen die worden uitgevoerd om de halfgeleiderelementen te vervaardigen.
申请公布号 BE1008384(A3) 申请公布日期 1996.04.02
申请号 BE19940000527 申请日期 1994.05.24
申请人 PHILIPS ELECTRONICS N.V. 发明人 DEKKER RONALD;MAAS HENRICUS G.R.;VAN DEN EINDEN WILHELMUS T.A.J.
分类号 H01L21/60;H01L21/02;H01L21/027;H01L21/336;H01L21/68;H01L21/84;H01L23/48;H01L27/12;H01L29/786 主分类号 H01L21/60
代理机构 代理人
主权项
地址