发明名称 用以形成抗蚀图形的方法
摘要 一种用以形成抗蚀图形的方法,它是通过涂覆具有小厚度的主光致抗蚀图形,并然后在主光致抗蚀图形上涂覆次光致抗蚀图形而制成的。另一方面,抗蚀图形可通过涂覆主光致抗蚀膜,将主光致抗蚀膜曝光以在主光致抗蚀膜上限定曝光区,在主光致抗蚀膜上涂覆次光致抗蚀膜,将次光致抗蚀膜曝光以在次光致抗蚀膜上限定曝光区,和将所得结构显影以形成主和次光致抗蚀图形而制成。该方法获得了光的对比度的改善,由此获得了具有垂直构形的抗蚀图形。
申请公布号 CN1119340A 申请公布日期 1996.03.27
申请号 CN95108123.3 申请日期 1995.07.14
申请人 现代电子产业株式会社 发明人 裵相满;白基镐
分类号 H01L21/31 主分类号 H01L21/31
代理机构 北京市中原信达知识产权代理公司 代理人 余朦
主权项 1.一种用以形成抗蚀图形的方法,它包括下列步骤:在下层上涂覆具有小的厚度的主光致抗蚀膜;使用一掩模将主光致抗蚀膜曝光,然后将主光致抗蚀膜显影,由此形成主光致抗蚀图形;在所得结构的整个露出表面上形成一中间层;在中间层上涂覆次光致抗蚀膜,使用与主光致抗蚀膜所用相同的掩模将次光致抗蚀膜曝光,然后将次光致抗蚀膜显影,由此形成次光致抗蚀图形;和蚀刻一部分通过次光致抗蚀图形所露出的中间层,由此形成完全地与主光致抗蚀图形重叠的次光致抗蚀图形,使得所得抗蚀图形具有垂直构形。
地址 韩国京畿道