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发明名称 Verfahren zur Kalibrierung/Klassierung von Submikron-öffnungen.
摘要
申请公布号 DE3751550(T2) 申请公布日期 1996.03.07
申请号 DE19873751550T 申请日期 1987.05.29
申请人 THE DOW CHEMICAL CO., MIDLAND, MICH., US 发明人 TOMALIA, DONALD A., MIDLAND MICHIGAN 48640, US;WILSON, LARRY R., MIDLAND MICHIGAN 48640, US
分类号 B01D65/10;C08C19/44;C08G69/44;C08G73/02;C08G83/00;G01N15/08;(IPC1-7):G01N15/08;G01N15/02;G01N33/483 主分类号 B01D65/10
代理机构 代理人
主权项
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