发明名称 | 光学器件 | ||
摘要 | 一种能结构简单且小型化的检测磁光信号的光学器件。该光学器件包括一个在共衬底上紧靠地安置光发射部分和光接收部分的光学元件(1),其中在光发射部分发射的光由磁光介质(36)反射后从磁光介质(36)得到的反射背面光由光接收部分和另一光接收元件(32)在近共焦点位置上检测。来自磁光介质(36)的反射背面光被分割。一束反射背面光由光学元件(1)的光接收部分检测,而另一束反射背面光由另一个光接收元件(32)检测。 | ||
申请公布号 | CN1115388A | 申请公布日期 | 1996.01.24 |
申请号 | CN95103295.X | 申请日期 | 1995.03.08 |
申请人 | 索尼公司 | 发明人 | K·佐原;H·生井;M·土井;O·松田 |
分类号 | G02B26/10 | 主分类号 | G02B26/10 |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 马铁良;张志醒 |
主权项 | 1.一种用于检测磁光信号的光学器件,包含:一个光学元件,该元件具有共用衬底,光发射部分和光接收部分,所说的光发射部分和光接收部分被紧靠地安置在共用衬底上,所说的光接收部分是接收和检测在所说光发射部分发射的光被所说磁光介质反射后,来自磁光介质的反射背面光;以及另一个光接收元件,其中来自所说磁光介质的反射背面光被分离,一束反射背面光由所说光学元件的所说光接收部分接收并检测,而另一束反射背面光则由所说的另一个光接收元件接收和检测。 | ||
地址 | 日本东京 |