发明名称 Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung von zweidimensionaler Strahlung
摘要
申请公布号 DE19515183(A1) 申请公布日期 1995.10.26
申请号 DE19951015183 申请日期 1995.04.25
申请人 SHIMADZU CORP., KYOTO, JP 发明人 TONAMI, HIROMICHI, KYOTO, JP;OIKAWA, SHIROU, KYOTO, JP
分类号 G01T1/00;G01T1/29;G03B42/02;H01J31/49;H04N5/32;H04N7/18;(IPC1-7):H01J31/49;G03B43/02;H04N5/30 主分类号 G01T1/00
代理机构 代理人
主权项
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