| 主权项 |
1. 一种用于检查导管(8,8')之导件(15,30,31)的装置,该导管用于在室(1)之水下的压水式核反应器的上内部(4),在导件(15,30,31)之内部包含导管(8,8'),其在检查位置含有垂直轴,导引开口(18,19,20,64,74,75)通过水平板(15),水平板彼此间沿着导管(8,8')及含有垂直轴之管状套筒的镗口(28,29,31)的轴方向上相间隔着,开口及镗口(18,19,20,28,29,31,64,74,75)沿着多个垂直轴方向对齐,包含观察棒束(10,70)的装置含一十字组件(10a),可系在把手杆(11)上,用于观察探针(47,72)的支架组件(46,67,69,68,71)可在导管(8,8')的导件(18,19,20,28,29,31,64,74,75)的开口及镗口的轴方向移动,探针(47,72)皆转动式地装配在支架(46,67,68,69)上,约为导管轴之平行轴上,及用于旋转探针(47,72)的机构,其特征为该观察棒束(10,70)包含:—一圆柱体(45,46),其直径小于导管(8,8')之中心镗口(17,27)的直径,—多个径向臂(46,47,68b,68d,68e,69,71),固定于圆柱体(45,66)之周围,用于决定角及轴位置,并且由与圆柱体(45,66)相对的组件携带一转动量测探针。2. 如申请专利范围第1项之检查装置,其特征为更包有至少两个圆柱导杆(49,73),皆固定至径向臂(48,45,66,68a,68)之端部,该臂与圆柱体相面对,且系于其上。3. 如申请专利范围第1或2项中任一项的检查装置,其特征为观察装置(47,72)皆包含一二极体雷射(50)及一光镜(52),其可旋转地装配在探针轴处,探针轴平行观察棒束(10)之圆柱体(45)的轴,所以可中断来自二极体雷射(50)的轴射且可应用辐射扫瞄扫瞄导管(8,8')之导件的开口及镗口(18,19,20,28,29,31,64,74,75),且将管(8,8')之导件的开口及镗口的表面所反射的辐射送回二极体(50)。4. 如申请专利范围第3项之检查装置,其特征为更包括一电子模组(63),固定于观察棒束(10)之圆柱体(45)的内部,包含用于处理来自与光侦测有关的二极体雷射(50)的信号。5. 如申请专利范围第3项之检查装置,其特征为镜子(52)固定于一支架(53)上,该支架固定地系在韧性电缆(54)的一端,其相反端固定地系在驱动齿轮(55)上,驱动齿轮(54)受减低齿轮(57)的驱动而旋转,该减低齿轮(57)位于观察棒束(10)的圆柱体(45)的内部。6. 如申请专利范围第1项之检查装置,其特征为在导件之水平板中用于停止观察棒束(10)的机构(62)装配在观察棒束(10)的圆柱体(45)上。7. 如申请专利范围第1项之检查装置,其特征为圆柱体(45)在每一臂(46)的附近携带一弹簧(78)用于定位板(15)之一面(23'),此由通过导引开口(64)而达成,含一部位(78a)构成量测探针(47)的一参考面。8. 如申请专利范围第2项之检查装置,其特征为观察棒束(10)包含四臂(46),实质上绕着观察棒束(10)的圆柱体(45),彼此间相差90,且皆携带一观察探针(47)及两组臂(48),其径向长度大于臂(46)且在观察棒束(10)之体(45)的两侧延伸,而端部携带两轴向导杆(49)。9. 如申请专利范围第2项之检查装置,其特征为观察棒束(70)包含不同长度的多个臂(67,68,69,71),分布于棒束(70)的圆柱体(66)周围,较长的两组壁(68a,68)在其端部携两轴向导杆(73),且其他臂(67,68b,68d,68e,69,71)携带量测探针(72)。10. 如申请专利范围第8或9项之检查装置,其特征为导杆(49,72)之轴向长度大于两连续水平板(15)分开的距离,板上有开口,用于导管(8,8')的导件(15,30,31)。11. 如申请专利范围第1项之检查装置,其特征为更包含一载体(9),其可越过室(1)之底(2),在垂直位置携带一用于观察棒束(1)的支撑(36),且在其端部机构上携带一把手杆(11),用于系在观察棒束(10)的十字组件(10a)上。12. 如申请专利范围第11项之检查装置,其特征为载具(9)包含一垂直移动头(41),该头有开口可在上内部(4)的下部(6)之对心螺旋(46)上啮合,所以可保证移动载具(9)在室(1)中的内部(4)下之精确定位。13. 如申请专利范围第11项之检查装置,其特征为移动载具(9)携带导引机构(39,39')及位移机构(38),使得一组电缆的一端可连接至观察棒束(10),而另一端连接至室(1)之上的控制及命令站。14. 如申请专利范围第11项之检查装置,其特征为移动载具(9)携带照相机(43,44),可观察室1之底(2),及移动载具(9)在垂直位置中的观察棒束(10)之上部位。15.一种用于检查导管(8,8')之导件(15,30,31)的方法,该导管用于位在室(1)水面下的压水式反应器之上内部(4),该导件(18,19,20,28,29,31,64,74,75)之内部包含导管(8,8')含有位在检查位置的垂直轴,导引开口(18,19,20,64,74,75),通过水平板(15),位于含垂直轴之管状套筒的导管(8,8')及镗口(28,29,31)的轴向上彼此间相隔开,开口及镗口(18,19,20,28,29,31,64,74,75)沿着多个垂直轴方向对齐,该装置包含一观察棒束(10,70),其含有十字组件(10a,45a),用于系在把手杆(11)上;用于观察棒束(47,72)的支撑元件(46,67,69,68)可在导管(8,8')的导件(15,30,31)内的轴向上移动,探针(47,72)皆可转动地配置于支架(46,67,68,69)上,约为导管轴的平行轴处,及用于转动探针(47,72)的机构(54,55,56,57),其特征为观察棒束(10)包含一圆柱体(45)其直径小于导管(8,8')之自由中心镗口的直径,及多个径向臂(46)固定于圆柱体(45)的四周之决定的角度及轴位置处,皆一携带一转动量测探针,置于内部(4)之导管(8')之下且与之对齐,—其中把手杆(11)经由其上端导入导管(8')之内部,—其中在把手杆(11)的一端及位在内部(4)之下方的观察棒束(10)的维束十字组件(10a)之间做一连结,—其中经由将把手杆升起,而将观察棒束(10)向上移至导管(8')的内部,且—其中在位于导管(8')内部的观察棒束(10)向上移动期间,导件应用量测探针(47)加以检查。16. 如申请专利范围第15项之检查方法,其特征为观察棒束(10)绕着其圆柱体(45)的轴旋转过某一角度,其位于内部(4)的下方,介于导管(8')内部的观察棒束(10)向上移动时及导管(8')内部检查时的两个连续操作之间。17. 如申请专利范围第15或16项之检查方法,其特征为导件(15,30,31)使用遥测雷射侦测(ladar)量测方法。图示简单说明:图1为导件检查之操作期间,位于核反应器室中储存座中核反应器的上内部上视图。图2为图1中上内部导管的上视图。图3为图2中之导管的导面之平面图。图4为图2导管之连续导件的截面管。图5为本发明之装置中观察棒束之携带匣的上视图。图6为本发明之装置中观察棒束的正视图。图7为图6中线7-7的截面图。图8为本发明装置的正视图,包含构成的雷射侦测的回转探针。图9为导板的平面图,与图3所似之板相似,其示在导件检验期间,图6及7中所示观察棒束之探针的位置。图9A为图9B中沿着线A-A之区的放大图,为图9所示导板之一部份,及一探针位于检查板之导引开口的位置中。图10为一截面图,与图7相似,为本发明之装置的观察棒束的不同实施例。图11为与图3相似之导板的平面图,其显示图10中观察棒 |
