发明名称 制造合并之双极化互补式金属氧化物半导体元件之方法
摘要 一种有一双极电晶体60及一P沟道金属氧化物半导体(PMOS)电晶体64形成于同一凹穴部位18之合并之双极化互补式金属氧化物半导体(BiCMOS)元件10。双极电晶体60由一射极电极30,基极部位26,及由凹穴部位18形成之集电极部位所构成。射极电极30藉厚氧化物24与基极部位26分开。钨矽化物层32覆盖射极电极30。PMOS电晶体64包含源极/漏极部位52及52a,闸电极40,及闸氧化物36。PMOS电晶体64可任选包含LDD部位44。源极/漏极部位52a与基极部位26接触。如果希望,可将射极电极30及闸电极40形成矽化物。
申请公布号 TW258830 申请公布日期 1995.10.01
申请号 TW084100551 申请日期 1995.01.23
申请人 德州仪器公司 发明人 伊罗伯
分类号 H01L27/105 主分类号 H01L27/105
代理机构 代理人 蔡中曾 台北巿敦化南路一段二四五号八楼
主权项
地址 美国