发明名称 CIRCUIT CONFIGURATION AND METHOD FOR THE TESTING OF STORAGE CELLS
摘要
申请公布号 KR950005578(B1) 申请公布日期 1995.05.25
申请号 KR19880002741 申请日期 1988.03.16
申请人 SIEMENS AG. 发明人 KRAUS, RAINER;KOWARIK, OSKAR;HOFFMANN, KURT;PAUL, MANFRED
分类号 G11C29/00;G11C11/401;G11C29/34;G11C29/36;G11C29/38;(IPC1-7):G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
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