首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 DEFECT INSPECTION METHOD AND DEVICE THEREFOR
摘要
申请公布号 JPH07120403(A) 申请公布日期 1995.05.12
申请号 JP19930263366 申请日期 1993.10.21
申请人 NIKON CORP 发明人 HAYANO FUMITOMO
分类号 G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com