| 发明名称 |
ANALYZING DEVICE FOR SAVING SEMICONDUCTOR MEMORY FAILURE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR950004622(B1) |
申请公布日期 |
1995.05.03 |
| 申请号 |
KR19910004326 |
申请日期 |
1991.03.19 |
| 申请人 |
ADVANTEST CO., LTD. |
发明人 |
FUJISAKI, KENICHI;OKINO, NOBORU |
| 分类号 |
G01R31/28;G11C29/00;G11C29/40;G11C29/44;(IPC1-7):G11C29/00 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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