发明名称 IC-Analysesystem mit einer Ladungsteilchenstrahlvorrichtung
摘要
申请公布号 DE4433733(A1) 申请公布日期 1995.03.23
申请号 DE19944433733 申请日期 1994.09.21
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 GOISHI, AKIRIA, KAZOSHI, SAITAMA, JP;KURIHARA, MASAYUKI, GYODASHI, SAITAMA, JP;UEDA, KOSHI, TOKIO/TOKYO, JP
分类号 G01Q30/00;G01R31/307;(IPC1-7):G01R31/305;H01L21/66;H01J49/00 主分类号 G01Q30/00
代理机构 代理人
主权项
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