| 摘要 |
<p>Beschrieben wird ein Verfahren zur Bearbeitung eines Objekts mittels eines mindestens eine Bearbeitungseinheit aufweisenden Bearbeitungsgeräts, bei dem das Bearbeitungsgerät vor dem zu bearbeitenden Objekt positioniert wird, indem mit einem Abstandssensor zumindest ein Teilbereich der diesem Abstandssensor zugewandten Oberfläche des zu bearbeitenden Objekts abgetastet, ein aus dieser Abtastung gewonnenes Abtastmuster mit einem gespeicherten Referenzmodell des zu bearbeitenden Objekts verglichen und daraus die Entfernung und die Orientierung des Bearbeitungsgeräts relativ zu dem zu bearbeitenden Objekt ermittelt wird. Erfindungsgemäß ist vorgesehen, daß in einem dem Vergleich des vom Abstandssensor generierten Abtastmusters mit dem gespeicherten Referenzmodell des zu bearbeitenden Objekts vorangehenden Verfahrensschritt das zu bearbeitende Objekt mit einem zumindest abstandsauflösenden Sensor abgetastet wird, daß das von diesem Sensor generierte Muster des zu bearbeitenden Objekts mit seinem Referenzmodell verglichen und die Abweichungen zwischen dem abgetasteten Muster und dem gespeicherten Referenzmodell festgestellt werden, und daß das gespeicherte Referenzmodell des Objekts zumindest teilweise entsprechend den festgestellten Abweichungen modifiziert und das derart generierte modifizierte Referenzmodell zur Bestimmung der Relativposition des Bearbeitungsgeräts verwendent wird.</p> |
