| 发明名称 |
Preload test circuit for programmable logic arrays |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
US4410987(B1) |
申请公布日期 |
1995.02.28 |
| 申请号 |
US19810282790 |
申请日期 |
1981.07.13 |
| 申请人 |
TEXAS INSTRUMENTS INCORPORATED |
发明人 |
PTASINSKI JAMES F.;WHEELER GLENN |
| 分类号 |
H03K19/177;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
H03K19/177 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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