| 发明名称 |
Semiconductor integrated circuit device incorporating a test circuit. |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0403821(B1) |
申请公布日期 |
1995.02.01 |
| 申请号 |
EP19900109882 |
申请日期 |
1990.05.23 |
| 申请人 |
FUJITSU LIMITED |
发明人 |
NAITOH, MITSUGU;SHIKATANI, JUNICHI |
| 分类号 |
G01R31/3185;G11C29/12;(IPC1-7):G06F11/26;G11C29/00;G01R31/318 |
主分类号 |
G01R31/3185 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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