| 发明名称 |
INSPECTING CIRCUIT FOR MEASUING RELIABILITY OF IMPACT SWITCH IN PROXIMITY FUSES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
KR940008529(Y1) |
申请公布日期 |
1994.12.22 |
| 申请号 |
KR19890015636U |
申请日期 |
1989.10.27 |
| 申请人 |
DAEWOO ELECTRONICS CO., LTD. |
发明人 |
CHON, CHAN - UK |
| 分类号 |
F42C1/00;F42C21/00;(IPC1-7):F42C21/00 |
主分类号 |
F42C1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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