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经营范围
发明名称
METHOD FOR INSPECTING SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
JPH06334017(A)
申请公布日期
1994.12.02
申请号
JP19930121233
申请日期
1993.05.24
申请人
ROHM CO LTD
发明人
ICHIHARA ATSUSHI
分类号
H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/66
主分类号
H01L21/66
代理机构
代理人
主权项
地址
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