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发明名称
Photoresistverfahren zum reaktiven Ionenätzen von Metallmustern für Halbleiterbauelemente.
摘要
申请公布号
DE3789999(T2)
申请公布日期
1994.12.01
申请号
DE19873789999T
申请日期
1987.07.07
申请人
INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK, N.Y., US
发明人
PROTSCHKA, HANS ADOLF, GAITHERSBURG MARYLAND 20878, US
分类号
H01L21/302;G03F7/00;G03F7/09;G03F7/11;G03F7/26;G03F7/42;H01L21/027;H01L21/30;H01L21/3065;H01L21/312;H01L21/3213;(IPC1-7):H01L21/312
主分类号
H01L21/302
代理机构
代理人
主权项
地址
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