发明名称 Messverfahren für die Gleichstrom/Gleichspannungs-Charakteristik von Halbleiterbauteilen.
摘要
申请公布号 DE69013459(D1) 申请公布日期 1994.11.24
申请号 DE19906013459 申请日期 1990.10.19
申请人 KABUSHIKI KAISHA TOSHIBA, KAWASAKI, KANAGAWA, JP;TOSHIBA MICRO-ELECTRONICS CORP., KAWASAKI, JP 发明人 NAKAMURA, OSAMU, C/O INTELLECTUAL PROPERTY DIV., MINATO-KU, TOKYO 105, JP
分类号 H01L21/66;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 H01L21/66
代理机构 代理人
主权项
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