| 发明名称 |
HIGH-RESOLUTION, HIGH-ACCURACY MEASURING INSTRUMENT USING SCANNING TUNNELING MICROSCOPE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06317402(A) |
申请公布日期 |
1994.11.15 |
| 申请号 |
JP19920204149 |
申请日期 |
1992.07.31 |
| 申请人 |
KANAGAWA KAGAKU GIJUTSU AKAD;NISHIOKI NOBUHISA |
发明人 |
HIGUCHI TOSHIRO;NISHIOKI NOBUHISA |
| 分类号 |
G01B7/34;G01Q10/04;G01Q30/06;G01Q40/02;G01Q60/10;H01J37/28;(IPC1-7):G01B7/34 |
主分类号 |
G01B7/34 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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