发明名称 Procedure and device for absolute measurements with a laser-interferometer.
摘要 <p>2.1. Bekannte einschlägige Meßverfahren bzw. Meßanordnungen haben den Nachteil, daß deren Meßauflösung bei weitem nicht an die mit anderen Methoden erreichbare Auflösung heranreicht und diese Verfahren für Meßstrecken, die innerhalb eines extremen Bereiches variieren, ungeeignet sind. 2.2. Dieser Nachteil wird bei dem erfindungsgemäßen Meßverfahren dadurch behoben, daß zwei Meßinterferometer mit jeweiligen Meßstrecken verwendet werden die mit dem Strahl desselben Lasers beaufschlagt werden, wobei die aus der arithmetischen Summe oder Differenz der beiden Meßstrecken gebildete Referenzstrecke konstant gehalten wird. Dabei wird aus zwei interferierenden Teilstrahlen jeweils wenigstens ein Interferenzsignal erzeugt, das mittels Photodetektoren gemessen wird. Bei dem eigentlichen Meßverfahren wird die Luftwellenlänge des Laserstrahls innerhalb eines modensprungfreien Wellenlängenbereichs zwischen zwei Wellenlängenwerten kontinuierlich durchgestimmt und während der Wellenlängenmodulation die integralen Phasenänderungen der jeweiligen Interferenzsignale detektiert. Aus diesen Phasenänderungen und der Länge der Referenzstrecke läßt sich der Meßabstand bestimmen. 2.3. Das Meßverfahren sowie die Laserinterferometeranordnung eignen sich insbesondere für absolute Abstandsmessungen. &lt;IMAGE&gt;</p>
申请公布号 EP0623801(A2) 申请公布日期 1994.11.09
申请号 EP19940106729 申请日期 1994.04.29
申请人 DR. JOHANNES HEIDENHAIN GMBH;FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FOERDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E.V. 发明人 THIEL, JUERGEN, DIPL.-PHYS.;MICHEL, DIETER, DIPL.-ING. (FH);FRANZ, ANDREAS, DR.
分类号 G01B9/02;G01J9/02;(IPC1-7):G01B9/02 主分类号 G01B9/02
代理机构 代理人
主权项
地址