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PROCEDE ET DISPOSITIF D'ETALONNAGE POUR UN ENSEMBLE DE MESURE DU PROFIL TRANSVERSAL D'EPAISSEUR D'UN PRODUIT PLAT Abrégé Descriptif Le dispositif est destiné à l'étalonnage d'un ensemble de mesure du profil d'épaisseur de produits plats, par exemple de tôles, qui comporte une source (10) de rayonnement, par exemple de rayons X, et une rangée (20) de détecteurs élémentaires (21) alignés selon la direction (P) du profil à mesurer, placées de part et d'autre d'une zone (2) de passage dudit produit. Le dispositif comporte un ensemble (32) de cales (33) ayant des caractéristiques différentes, un chariot (30) de support des cales mobile selon cette direction. Pour l'étalonnage, on déplace l'ensemble des cales dans la zone de passage de manière que chaque cale puisse intercepter le rayonnement émis par la source en direction de chaque détecteur, et, au cours du déplacement du chariot, on effectue plusieurs lectures des signaux émis par les détecteurs de manière à obtenir, pour chaque détecteur, un ensemble de valeurs des signaux représentatives de l'intensité du rayonnement absorbé par chaque cale, et on établit à partir de ces valeurs, la courbe d'étalonnage de chaque capteur.
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