首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Vorrichtung für die Determination der Temperatur von Wafern oder Dünnschichten.
摘要
申请公布号 DE68916447(T2) 申请公布日期 1994.10.13
申请号 DE19896016447T 申请日期 1989.02.16
申请人 INTERNATIONAL STANDARD ELECTRIC CORP., NEW YORK, N.Y., US 发明人 AMITH, AVRAHAM, ROANOKE VIRGINIA 24014, US;NASELLI, CHARLES, ROANOKE VIRGINIA 24019, US;NEVIN, C. SCOTT, ALBION INDIANA 46701, US
分类号 G01K11/12;G01N21/17;H01L21/66;H01L31/0248;(IPC1-7):G01K11/12;G05D23/27 主分类号 G01K11/12
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com