| 发明名称 |
METHOD FOR TESTING ELECTRONIC PARTS |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06273477(A) |
申请公布日期 |
1994.09.30 |
| 申请号 |
JP19930086959 |
申请日期 |
1993.03.23 |
| 申请人 |
JAPAN ENERGY CORP |
发明人 |
FUJIMOTO YOSHINARI;WATANABE TAKAYA |
| 分类号 |
G01R29/22;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/26 |
主分类号 |
G01R29/22 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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