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发明名称 WIRING CHECKER FOR SEMICONDUCTOR DEVICE TEST BOARD
摘要
申请公布号 JPH06258376(A) 申请公布日期 1994.09.16
申请号 JP19930065952 申请日期 1993.03.03
申请人 MITSUBISHI ELECTRIC CORP 发明人 OSADA TAKAHIRO
分类号 G01R31/02;G01R31/26;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
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