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发明名称
TEST AUXILIARY CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE
摘要
申请公布号
JPH06258400(A)
申请公布日期
1994.09.16
申请号
JP19930065954
申请日期
1993.03.03
申请人
MITSUBISHI ELECTRIC CORP
发明人
MAENO HIDESHI
分类号
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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