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<P>Un appareil de test de mémoire comprend un analyseur de redondance (10) ayant un circuit d'interface de transfert de mémoire vive de saisie (36) qui reçoit simultanément, en parallèle, une information de défaut pour un ensemble de régions (17) d'une mémoire sous test (16), et qui émet l'information pour chaque région vers un module respectif parmi un ensemble de modules de région (40) comprenant chacun un circuit d'entrée de région (56), une mémoire vive de défauts de région (60) et un microprocesseur (58) qui est connecté de façon à avoir accès à la mémoire vive de défauts de région. Les mémoires vives de défauts de région (60) enregistrent des adresses de défaut qui identifient les positions de défauts dans la mémoire sous test (16).</P>
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