| 发明名称 |
FINE PARTICLE MEASURING SYSTEM |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH06194308(A) |
申请公布日期 |
1994.07.15 |
| 申请号 |
JP19930267419 |
申请日期 |
1993.10.26 |
| 申请人 |
TOSHIBA CORP |
发明人 |
FUJITA HIROSHI;AOKI KATSUAKI |
| 分类号 |
G01N15/00;G01N15/14;G01N21/17;G03B27/52;(IPC1-7):G01N21/17 |
主分类号 |
G01N15/00 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
