| 发明名称 |
SYSTEM FOR TESTING ENTIRE SYSTEM THAT ADOPTS INTEGRATED CIRCUIT WITH MODULATOR |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06197135(A) |
申请公布日期 |
1994.07.15 |
| 申请号 |
JP19930174095 |
申请日期 |
1993.07.14 |
| 申请人 |
ADVANCED MICRO DEVICDS INC |
发明人 |
JIYOSEFU UIRIAMU PIITAASON;SAITO MAKOTO;DEIRU II GURITSUKU;NONOGAKI MASARU;IIMURA TOSHIAKI |
| 分类号 |
G01R31/28;H04L1/24;H04L27/00;H04L27/10;(IPC1-7):H04L27/10 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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