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发明名称 Szintillationszählsystem zur lokalen Messung von radioaktiven Proben in einer mit mehreren Schächten versehenen Platte.
摘要
申请公布号 DE69007743(T2) 申请公布日期 1994.07.07
申请号 DE19906007743T 申请日期 1990.07.23
申请人 PACKARD INSTRUMENT CO., INC., DOWNERS GROVE, ILL. 发明人 VAN CAUTER, GUSTAAF C., MIDDLETOWN, CT 06457;OSTEN, DONALD E., BOLINGBROOK, IL 60439;TOMISEK, JOHN D., LOMBARD, IL 60148
分类号 G01T1/204;G01T1/29;G01T7/08;(IPC1-7):G01T1/29 主分类号 G01T1/204
代理机构 代理人
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