发明名称 Système d'alignement d'un appareil d'essai.
摘要 <P>Appareil d'essai (10) pour contrôler des plaquettes de circuits imprimés (20), comportant un réseau de sondes d'essai monté sur une plaque à sondes et maintenu en contact avec des points d'essai dans des circuits (22) imprimés sur la plaquette (20). Le réseau de circuits est indexé par rapport à une marque repère (28) sur la plaquette. Une plaque supérieure mobile (16) comprend une broche de positionnement (24) introduite dans un trou de broche de positionnement (26) sur la plaquette pour maintenir la plaquette dans une position fixe par rapport aux sondes d'essai lors du contrôle. On détecte optiquement la marque repère que l'on compare à un point de référence fixé pour voir si les points d'essai sur la plaquette sont alignés ou non avec les sondes. La plaque supérieure 16 peut alors être déplacée par des moteurs selon les axes X et Y et éventuellement autour de l'axe Z pour faire coïncider l'image de la marque repère avec l'image du point de référence.</P>
申请公布号 FR2699366(A1) 申请公布日期 1994.06.17
申请号 FR19930014940 申请日期 1993.12.13
申请人 EVERETT CHARLES TECHNOLOGIES INC 发明人 SWART MARK A.;JOHNSTON CHARLES J.;VAN LOAN DAVID R.
分类号 G01R31/02;G01N21/88;G01N21/93;G01N21/956;G01R1/073;G01R31/28;H04N7/18;(IPC1-7):H05K13/08 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
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