发明名称 具有感测放大器电路之半导体积体电路装置
摘要 一种如图3所示之感测放大器电路,供感测一极小之信号,电路包括有两个MOS电晶体M1与M2,此两MOS电晶体M1与M2可响应于输入信号线I1与I2间的差分电压而进行差分操作,以及分别连接于各电晶体M1和M2的汲极区与闸极区之间的开关S11与S12。在电路感测及放大信号之前,开关S11与S12先接通,以产生各电晶体M1与M2的闸极区与源极区间之临限电压。于是,依据各电晶体间之临限电压差异,可在信号放大之前根据电晶体之偏压来自行调整。所得到之感测放大器电路可与临限电压之差异无关地进行其操作。此种感测放大器可应用作为DRAM中之感测放大器。
申请公布号 TW224544 申请公布日期 1994.06.01
申请号 TW081102659 申请日期 1992.04.07
申请人 日立装置工程股份有限公司;日立制作所股份有限公司 发明人 川尻良树;伊藤清男;阪田健;河原尊之;秋叶武定;橘川五郎
分类号 H01L29/68;H01L29/804 主分类号 H01L29/68
代理机构 代理人 林敏生 台北巿南京东路二段一二五号七楼伟成第一大楼
主权项 图示简单说明: 图1为示意图,子出本发明之概念结 构; 图2为示意图,子出与本发明之概念 相关的操作; 图3子出本发明的第一实施例; 图4系供图示说明本发明第一实施例 的操作; 图5子出本发明的第二实施例; 图6系供图示说明本发明第二实施例 的操作; 图7为示意图,子出本发明的第三实 施例; 图8系供图示说明本发明的第三实施 例之操作; 图9子出本发明的第四实施例; 图10系供图示说明本发明第四实施例 的操作; 图11为示意图,示出本发明的第五实 施例; 图12系供图示说明本发明第五实施例 的操作; 图13示出本发明一实施例之控制电路 的一部分; 图14系供图示说明图13之电路的操作 图15为示意图,子出本发明的第六实 施例; 图16系供图示说明本发明第六实施例 的操作; 图l7a与l7b子出本发明一实施例中 各种电阿大小问的关系; 图18子出本发明的第十实施例; 图19a、l9b与l9e为示意图,子出 本发明一实施例中之控制电路安排方式; 图20子出本发明一实施例中之读取电 路的一部分; 图21系供图示说明图20之电路的操作 图22子出应用本发明而构成之系统结 构; 图23子出DRAM结构的一个习知例;而 图24系供图示说明图23之习知例的操 作。
地址 日本