发明名称 |
外差干涉仪信号处理——相位和相位整数测量方法及其装置 |
摘要 |
本发明涉及一种外差干涉仪的信号处理新方法,即相位和相位整数测量法。本发明采用了相位测量技术和超过2π相位变化的相位整数测量技术。包括数字相位调制方法,即将两路频率信号的相位转换成为一个调宽信号,还包括超过2π相位变化的相位整数测量方法,即由相位调制输出的调宽信号,经过整数相位测量电路,产生被测相位差周期数变化的信号,从而实现相位的测量。本发明具有分辨率高,测量范围大和动态信号处理等功能。 |
申请公布号 |
CN1024593C |
申请公布日期 |
1994.05.18 |
申请号 |
CN91103615.6 |
申请日期 |
1991.06.05 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
赵洋;李达成;曹芒;王佳 |
分类号 |
G01R25/00;G01B9/02 |
主分类号 |
G01R25/00 |
代理机构 |
清华大学专利事务所 |
代理人 |
罗文群 |
主权项 |
1.一种补差干涉仪信号处理方法,包括数字相位调制方法,即将两路频率信号的相位差转换成为一个调宽信号,其特征在于所述的信号处理方法还包括整数相位测量方法和两路相同电路的相位测量方法,所述的整数相位测量方法是利用相位调制器输出的调宽信号的特征实现的;即当被测相位差从绝对值2π变到超过2π时,调宽信号的调制宽度从调制最深到调制为零,经过整数相位测量电路,产生反映被测相位差周期数变化的信号,从而实现相位整数测量;所述的两路相同电路的测量方法是主相位差,辅助相位测量电路则测量将参考信号相移π后的信号与测量信号的相位测量电路直接测量参考信号与测量信号的相位差,从两个相位测量电路输出的相位值相差π,当主相位测量电路输出的模拟信号发生跳变时,辅助相位测量电路的输出刚好为π相位所对应的模拟量。 |
地址 |
北京市海淀区清华园 |