发明名称 Turn-off high-power semiconductor device.
摘要 <p>Bei einem abschaltbaren Hochleistungs-Halbleiterbauelement, insbesondere in Form eines GTO, mit einem scheibenförmigen Halbleitersubstrat (2), welches konzentrisch in einem ringförmigen Isoliergehäuse (10) zwischen einem mit Druck beaufschlagbaren, scheibenförmigen Kathodenkontakt (4) und einem ebenfalls mit Druck beaufschlagbaren, scheibenförmigen Anodenkontakt (5) angeordnet ist und auf der Seite des Kathodenkontakts durch einen Gatekontakt (7, 21) kontaktiert wird, wobei der Kathodenkontakt (4) über einen ersten Deckel (11a) mit dem einen Ende des Isoliergehäuses (10) und der Anodenkontakt (5) über einen zweiten Deckel (11b) mit dem anderen Ende des Isoliergehäuses (10) verbunden ist und ein nach aussen hermetisch abgeschlossenes Bauelement (1) bilden, und wobei der Gatekontakt (7) über eine nach aussen geführte Gatezuführung (8) mit einem Gatestrom beaufschlagbar ist, wird mit einem Minimum an Veränderungen gegenüber herkömmlichen Bauelementen eine Verbindung zur Gate-Unit mit niedriger Koppelinduktivität dadurch erreicht, dass die Gatezuführung (8) rotationssymmetrisch ausgebildet und zum Kathodenkontakt (4) konzentrisch angeordnet ist, und die Gatezuführung (8) vom Kathodenkontakt (4) durch einen einzigen Isolator elektrisch getrennt ist. <IMAGE></p>
申请公布号 EP0588026(A2) 申请公布日期 1994.03.23
申请号 EP19930111801 申请日期 1993.07.23
申请人 ABB RESEARCH LTD. 发明人 GRUENING, HORST, DR.
分类号 H01L21/52;H01L23/051;H01L29/74;H01L29/744;H01L29/749;(IPC1-7):H01L29/74;H01L29/62 主分类号 H01L21/52
代理机构 代理人
主权项
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