| 发明名称 |
ELECTRON BEAM SYSTEM FOR TESTING SEMICONDUCTOR DEVICE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH0675026(A) |
申请公布日期 |
1994.03.18 |
| 申请号 |
JP19920227264 |
申请日期 |
1992.08.26 |
| 申请人 |
FUJITSU LTD |
发明人 |
ISHIZUKA TOSHIHIRO;KURIOZAWA TOSHIROU |
| 分类号 |
G01R31/302;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/302 |
主分类号 |
G01R31/302 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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