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发明名称 Einrichtung zum Prüfen und Sortieren von elektronischen Bauelementen, insbesondere integrierten Chips
摘要
申请公布号 DE3531120(C2) 申请公布日期 1994.02.03
申请号 DE19853531120 申请日期 1985.08.30
申请人 UEBERREITER, EKKEHARD, ING.(GRAD.), 85604 ZORNEDING, DE 发明人 UEBERREITER, EKKEHARD, ING.(GRAD.), 85604 ZORNEDING, DE
分类号 B07C5/344;G01R31/28;(IPC1-7):B07C5/02;B65G47/08;B65G47/54;H01L21/68 主分类号 B07C5/344
代理机构 代理人
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