| 发明名称 |
METHOD FOR INSPECTING ANGULAR CHIP FOR SOLDERED STATE |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH05306913(A) |
申请公布日期 |
1993.11.19 |
| 申请号 |
JP19920111178 |
申请日期 |
1992.04.30 |
| 申请人 |
MATSUSHITA ELECTRIC IND CO LTD |
发明人 |
NISHI SHOICHI |
| 分类号 |
B23K1/00;G01B11/24;G01N21/88;G01N21/956;H05K3/34;(IPC1-7):G01B11/24 |
主分类号 |
B23K1/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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