发明名称 |
金属氧化物超导薄膜的化学气相快速沉积工艺 |
摘要 |
一种用金属有机化学气相沉积技术(MOCVD)快速沉积金属氧化物超导薄膜的工艺,其特征在于维持反应室压力为66.5~133帕的低压,衬底温度700~850℃,有机源升华温度80~250℃,反应室氧分压为13.3~93帕,用本发明的工艺,超导膜的沉积速率达20μm/h,沉积得到表面光亮、致密,成分均匀,超导临界温度大于90K,77K下零场电流密度大于2×10<SUP>6</SUP>A/cm<SUP>2</SUP>,最大可达8×10<SUP>6</SUP>A/cm<SUP>2</SUP>的YBCD超导薄膜。 |
申请公布号 |
CN1078327A |
申请公布日期 |
1993.11.10 |
申请号 |
CN92108395.5 |
申请日期 |
1992.04.30 |
申请人 |
中国科学院上海冶金研究所 |
发明人 |
陶卫;吴自良 |
分类号 |
H01B12/06;H01L39/24;C23C16/40 |
主分类号 |
H01B12/06 |
代理机构 |
中国科学院上海专利事务所 |
代理人 |
季良魁 |
主权项 |
1、一种用金属有机化学气相沉积技术(MOCVD)快速沉积金属氧化物超导薄膜的工艺,包括衬底片加热、反应室抽真空、升华有机源,由载气将升华的金属有机源输送到反应室并通入氧气,本发明的特征在于:Ⅰ.发生气相沉积反应的反应室压力为66.5-133帕;Ⅱ.反应室的氧分压为13.3-93帕;Ⅲ.金属有机源的升华温度:Y、Cu源为80-170℃,Ba源为180-250℃;Ⅳ.衬底温度为700-850℃。 |
地址 |
200050上海市长宁路865号 |