METHOD FOR TESTING DISCRETE-TIME CIRCUIT,申请号JP19920054857-传众专利搜索

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发明名称	METHOD FOR TESTING DISCRETE-TIME CIRCUIT
摘要
申请公布号	JPH05256885(A)	申请公布日期	1993.10.08
申请号	JP19920054857	申请日期	1992.03.13
申请人		发明人
分类号	G01R23/16;G01R27/28;(IPC1-7):G01R23/16	主分类号	G01R23/16
代理机构		代理人
主权项
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