发明名称 MEASURING METHOD FOR SUBSTRATE TEMPERATURE
摘要
申请公布号 JPH05251397(A) 申请公布日期 1993.09.28
申请号 JP19920048141 申请日期 1992.03.05
申请人 FUJITSU LTD 发明人 OJIRI HIDEHIRO
分类号 H01L21/302;H01L21/3065;H01L21/66;(IPC1-7):H01L21/302 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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