SAMPLE INCLINATION DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE,申请号JP19920046593-传众专利搜索

发明名称	SAMPLE INCLINATION DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
摘要
申请公布号	JPH05251025(A)	申请公布日期	1993.09.28
申请号	JP19920046593	申请日期	1992.03.04
申请人	NIPPON STEEL CORP	发明人	SUZUKI SHIGERU
分类号	H01J37/20;(IPC1-7):H01J37/20	主分类号	H01J37/20
代理机构		代理人
主权项
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