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发明名称 DEVICE FOR PERFORMING DYNAMIC BURN-IN TEST ON SEMICONDUCTOR INTEGRATE CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH05240911(A) 申请公布日期 1993.09.21
申请号 JP19920075187 申请日期 1992.02.26
申请人 NEC CORP 发明人 DAITO MASAYUKI
分类号 G01R31/26;G11C29/00;G11C29/56;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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