发明名称 SEMICONDUCTOR DEVICE INSPECTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05215814(A) 申请公布日期 1993.08.27
申请号 JP19920130756 申请日期 1992.05.22
申请人 TOKYO ELECTRON YAMANASHI KK 发明人 SAEGUSA TAKESHI
分类号 G01R31/26;G01R1/073;H01L21/66 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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