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发明名称 CIRCUIT ARRANGEMENT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUITS
摘要
申请公布号 EP0508061(A3) 申请公布日期 1993.07.28
申请号 EP19920102279 申请日期 1992.02.11
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 HOELZLE, JOSEF, DIPL.-ING.
分类号 G01R31/28;G01R31/3185;H03K17/62;(IPC1-7):G01R31/318 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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