| 摘要 |
本发明揭示一种检视具有复数个光折射式表面结构之光管理薄膜的方法，其包含：定位至少一照明源与至少一成像装置，其经组态成为一实质亮场组态；以及成像该光管理薄膜的至少一部份，用以提供一捕获影像，其中，来自该至少一照明源的光会被该薄膜折射而在至少一成像装置处产生一暗场影像。还提供一种检视光管理薄膜的系统。该系统包含：至少一照明源，用于照明该薄膜的一第一侧；至少一成像装置，用以接收透过该光管理薄膜之一反向侧所折射的光，其中，该照明源与该成像装置经组态成为一实质亮场组态，用以捕获一暗场影像；一处理器-控制器；以及一电脑可读取媒体，其包含用于进行自动缺陷侦测的指令。该夹具、该照明源、该成像装置、该处理器-控制器以及该电脑可读取媒体运作上耦合以进行自动缺陷侦测。 |
