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<p>Verfahren zur kontinuierlichen Abstandsmessung eines beschichteten Trägermaterials zu einer die Material-Beschichtungsstärke messenden Einrichtung, wobei das beschichtete Trägermaterial mittels eines Americium Strahlers zur material-charakteristischen Fluoreszent angeregt wird und mittels eines Filters der Teil der Strahlung absorbiert wird, der von der Ordnungszahl des beschichteten Trägermaterials abhängig ist, so daß mittels einer mit Krypton oder Xenon gefüllten Ionisationskammer die Comptonstrahlung des Trägermaterials gemessen werden kann, die ein Maß für den Abstand darstellt.</p> |
