发明名称 INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH05107317(A) 申请公布日期 1993.04.27
申请号 JP19910298105 申请日期 1991.10.18
申请人 OKAYA ELECTRIC IND CO LTD 发明人 MATSUZAWA ISAMU;TANAKA HARUO
分类号 G01R31/319;G01R31/28 主分类号 G01R31/319
代理机构 代理人
主权项
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