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发明名称
INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE
摘要
申请公布号
JPH05107317(A)
申请公布日期
1993.04.27
申请号
JP19910298105
申请日期
1991.10.18
申请人
OKAYA ELECTRIC IND CO LTD
发明人
MATSUZAWA ISAMU;TANAKA HARUO
分类号
G01R31/319;G01R31/28
主分类号
G01R31/319
代理机构
代理人
主权项
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