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发明名称
INTEGRATED CIRCUIT DEVICE HAVING MACRO TEST FUNCTION
摘要
申请公布号
EP0484861(A3)
申请公布日期
1993.03.31
申请号
EP19910118787
申请日期
1991.11.04
申请人
NEC CORPORATION
发明人
HASEGAWA, YASUYUKI
分类号
G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3185;(IPC1-7):G01R31/318
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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